SIMI-2939半導(dǎo)體分立器件測(cè)試儀
產(chǎn)品特點(diǎn)
測(cè)試品種覆蓋面廣、測(cè)試精度高、電參數(shù)測(cè)試全、速度快、有良好的重復(fù)性和一致性、工作穩(wěn)定可靠,具有保護(hù)系統(tǒng)和被測(cè)器件的能力。被測(cè)器件可通過圖形顯示,系統(tǒng)軟件功能全、使用靈活方便、操作簡單。系統(tǒng)軟件穩(wěn)定可靠、硬件故障率低,在實(shí)際測(cè)試應(yīng)用中各項(xiàng)技術(shù)指標(biāo)均可達(dá)到器件手冊(cè)技術(shù)指標(biāo)及國標(biāo)要求。
測(cè)試參數(shù)
1. 二極管:VF、IR、BVR
2. 穩(wěn)壓(齊納)二極管 :VF、IR、BV Z
3. 晶體管 Transistor(NPN型/PNP型):VBE、ICBO、 LCEO、IEBO、BVCEO、BVCBO、BVEBO、hFE、VCESAT、VBESAT 、VBEON
4. 可控硅整流器(晶閘管) :IGT、VGT、 IH、IL 、VTM
5. 場效應(yīng)管 :IGESF、IGSSF、 IGSSR、IGSS、VDSON、RDSON、VGSTH、IDSS、IDON 、gFS、 BVDGO、BVGSS
6. 光電耦合器 :VF 、IR、CTR、ICEO、BVCEO、VCESAT
7.三端穩(wěn)壓器:VO、ID
被測(cè)元件曲線圖:
隨機(jī)標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試夾具
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